复纳科学仪器(上海)有限公司
技术文章
您现在所在位置:首页 > 技术中心 > Phenom半导体电子显微镜主要特点

Phenom半导体电子显微镜主要特点

 更新时间:2016-04-19 点击量:2504
   飞纳(Phenom)半导体电子显微镜主要特点
  一长寿命/高亮度/低色差CeB6灯丝。
  一表面细节丰富的高质量图片。
  一内置彩色光学显微镜。
  一自动马达样品台。
  一30秒快速成像,操作简单。
  一光学与低倍电子双重导航。
  一防震设计,对放置环境无牛条殊要求。
  一样品仓低真空技术,直接观测绝缘体,需喷金。
  一四分割高灵敏度背散射电子探头,兼得样品表面形貌与成份信息。
  半导体电子显微镜观测材料、矿物、生物样品、器件透射电子显微象及电子衍射图,对样品微观组织、结构、缺陷等定性、定量分析。 可对样品在加热、拉伸、电子辐照等条件下微观组织的变化过程进行动态观测。与普通电子显微镜相比较,它可以进行微观过程的动态实验观察、辐照效应研究、厚试样和粗大析出物的观察分析以及半导体微器件结构研究。半导体电子显微镜快速切换物镜,提高检查速度电动物镜转换器的切换速度比原来提高了20%。物镜的切换,可以操作按钮瞬间完成,提高了检查速度。三种洁净类型的物镜转换器可以按需选择。另外,UIS2物镜大幅度地提高了高倍率的偏心精度。即便是有小尺寸摄像元件的CCD摄像机,在切换倍率时也不会由视场中心附近偏离。

传真:

邮箱:info@phenom-china.com

地址:上海市闵行区虹桥镇申滨路 88 号上海虹桥丽宝广场 T5,705 室

版权所有 © 2018 复纳科学仪器(上海)有限公司   备案号:沪ICP备12015467号-2  管理登陆  技术支持:化工仪器网  GoogleSitemap

Baidu
map